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        SEM原位解決方案每一個設計作品都舉世無雙

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        ACS Nano:浙大采用機械減薄法獲得單元素金屬二維材料

        日期:2020-11-13

           二維(2D)材料由于其原子級超薄結構而表現出特殊的物理和化學性質。然而,制造由單元素金屬原子組成的二維材料仍然具有挑戰性。

             近日,浙江大學張澤院士、王江偉研究員課題組聯合美國佐治亞理工大學Ting Zhu教授、中科院金屬所杜奎研究員等人報道了一種通過原位透射電子顯微鏡對金薄膜進行加工并制備獨立二維金(Au)膜的技術。在平面內拉伸應變作用下,Au薄膜的局部區域內形成了大面積的減薄變形,從而在Au膜基體的包圍下形成獨立的二維結構。該二維薄膜為單原子厚度,具有簡單的六方晶格,與薄膜矩陣的面心立方晶格形成原子尖界面。表面原子的擴散輸運與界面位錯的動態演化在機械減薄過程中對二維Au膜的形成起著重要作用。這些結果證明了一種自上而下的方法來生產獨立的2D薄膜,并提供了一種對金屬薄膜機械減薄至單原子層厚度的可行方案。相關研究成果以"Free-Standing Two-Dimensional Gold Membranes Produced by Extreme Mechanical Thinning"發表在《ACS Nano》上。

        原文鏈接:https://dx.doi.org/10.1021/acsnano.0c06697

        浙大采用機械減薄法獲得單元素金屬二維材料
        浙大采用機械減薄法獲得單元素金屬二維材料

        圖:實驗方法

             研究人員利用PicoFemto?原位TEM-STM電學樣品桿搭建了金薄膜機械減薄的實驗環境。金棒被分別固定在樣品桿的固定端和三維操縱端,接觸后通過施加電壓實現焊接。接著,樣品桿通過亞納米級精度的力學加載,逐漸拉伸出金二維結構。

         

         

        原位TEM-STM電學樣品桿實驗電鏡表征

        圖:電鏡表征

         

        原位TEM-STM電學樣品桿

        圖:本項研究中使用的PicoFemto?位TEM-STM樣品桿

         

         以上就是澤攸科技浙大采用機械減薄法獲得單元素金屬二維材料的介紹,關于文中使用的原位TEM-STM電學樣品桿價格請咨詢18817557412(微信同號)

        原位TEM-STM電學樣品桿


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        作者:admin


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