透射電鏡樣品桿是如何使用的?
透射電鏡每做好一個樣品，首先要安置在樣品時候不會損害透射電鏡的光學性質或者讓氣體桿上，然后插入透射電鏡樣品臺才能進行抽真進入透射電鏡的真空區域?！ ⊥干潆婄R樣品桿是利用高能電子束充當照明光源而進行放大成像的大型顯微分析設備，利用透射電鏡電學測試樣品桿與掃描電鏡相結合，成功搭建出在掃描電鏡和透射電鏡中通用的原位電學性能測......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-11-07
透射電鏡每做好一個樣品，首先要安置在樣品時候不會損害透射電鏡的光學性質或者讓氣體桿上，然后插入透射電鏡樣品臺才能進行抽真進入透射電鏡的真空區域?！ ⊥干潆婄R樣品桿是利用高能電子束充當照明光源而進行放大成像的大型顯微分析設備，利用透射電鏡電學測試樣品桿與掃描電鏡相結合，成功搭建出在掃描電鏡和透射電鏡中通用的原位電學性能測......
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PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。價格請咨詢18817557412(微信同號) ...
MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-29
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統,采用全新的O圈輔助密封設計,更易封裝液體。價格請咨詢18817557412(微信同號)...
MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-29
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。價格請咨詢18817557412(微信同號)...
MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-29
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。價格請咨詢18817557412(微信同號)...
MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-27
PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,價格請咨詢18817557412(微信同號)...
MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-27
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,價格請咨詢18817557412(微信同號)...
MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-27
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,價格請咨詢18817557412(微信同號)...
MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-27
PicoFemto透射電鏡原位高溫力學測量系統,同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊,可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學測量。價格請咨詢18817557412(微信同號)...
MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-27
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統，該產品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等），價格請咨詢18817557412(微信同號)...
MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-27
PicoFemto系列透射電鏡氣體樣品桿，基于MEMS芯片封裝及微區加熱技術，桿身集成氣路通道，實現透射電鏡內原位氣氛加熱實驗。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡氣體樣品桿基于MEMS芯片封裝及微區加熱技術，桿身集成氣路通道，在透射電子顯微鏡中營造高溫氣氛環境（ 1 Bar & 800 ℃） ，使研究者可以......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位光學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，樣品桿內集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實現透射電鏡內的光電測量或光譜學表征研究。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位光學樣品桿 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，同時集成光纖單元，可外接光源或光譜儀，開展光電測量......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡三維重構樣品桿，基于樣品端超薄設計，滿足大傾角傾轉和360度旋轉測試需求。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 三維重構樣品桿 基于樣品端超薄設計或360旋轉設計，滿足生命科學、材料科學領域對三維重構表征的不同需求。三維重構樣品桿-技術指標Tomo樣品桿360旋轉樣品桿雙傾水平旋轉樣品桿......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位拉伸樣品桿，適用于雙噴、離子減薄樣品，樣品置于拉伸基片上，手動和軟件兩種操控模式，可拉伸、可壓縮。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位拉伸樣品桿 基于高精度壓電拉伸操控，最小步長小于100nm，適用雙噴或離子減薄樣品，是研究金屬材料、納米材料、薄膜材料力學行為的重要工具。原位......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡氣氛加熱樣品桿，基于MEMS芯片封裝及微區加熱技術，桿身集成氣路通道，實現透射電鏡內原位氣氛加熱實驗。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 氣氛加熱樣品桿 基于MEMS芯片封裝及微區加熱技術，桿身集成氣路通道，在透射電子顯微鏡中營造高溫氣氛環境（ 1 Bar & 800 ℃） ，......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位力學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，集成力測量功能，對樣品進行壓縮/拉伸過程可實時輸出力-位移曲線，支持力-電同時測量。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位力學樣品桿 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱，同時集成了AFM定量......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統源于中科院物理研究所SF1組（20世紀90年代），圍繞原位電學測量樣品桿，澤攸科技不斷進行產品迭代及功能拓展，已推出電、力、光、熱、低溫等多種原位功能樣品桿，產品覆蓋國內原位電鏡市場的同時也遠銷美國、英國、德國及澳大利亞科研市場。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位電學......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
相變隨機存取存儲器（Phase-change random-access memory，PCRAM）是具有潛力的新一代非易失性存儲器，是業界、學界的研究熱點。PCRAM顯著的特性在于高操作速度且數據非易失性：高溫（600-700 K）下，相變存儲材料可實現納秒乃至亞納秒級高速晶化，而在室溫下，非晶態數據可實現十年以上的......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-03-25
眾所周知，雖然鋰離子電池已經被廣泛應用，但是鋰資源的稀缺性迫使人們不得不去探索替代品。這其中，鈉離子電池被認為是最有希望的替代品。然而，Na+的大半徑(1.02 ?)容易引起電極材料的體積膨脹、碎裂和鈉離子在負極材料中的不可逆輸運，導致電極材料的破壞，循環穩定性差，速率性能不理想。因此，探索合適的負極材料以加速鈉離子電......
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2022-02-10
FIB/SEM雙束電鏡廣泛應用于材料樣品的制備，不論是神奇的納米剪紙還是測試力學的納米微柱都離不開FIB的精密加工。但是目前利用FIB進行原位研究的工作還少有報道。近日，澤攸科技助力燕山大學黃建宇教授團隊利用原位FIB/SEM技術解析硫化物固態電解質的失效機制，該研究成果以“Size dependent chemom......
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2022-01-07