
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統,該產品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統,使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境(包括力、熱、光、電等),價格請咨詢18817557412(微信同號)...
MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-27
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MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-27
東南大學徐峰、孫立濤研究團隊聯合北京大學和南京理工大學研究團隊通過反復研究制備方法初步獲得均勻的隧道結構MnO2納米棒,并借助PicoFemto?原位樣品桿在電鏡內構建了電池模型,結合電子...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2019-09-29
高首次庫倫效率和循環穩定性的鈉離子電池研究,PicoFemto?原位電學樣品桿(STM-TEM Holder)助力華南理工大學環境與能源學院、美國佐治亞理工學院劉美林教授與華南理工大學楊成浩教授(通訊作...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2019-09-29
利用PicoFemto?原位電學樣品桿(TEM-STM holder)在透射電鏡中實時研究了Sn@C負極材料在鋰化和脫鋰過程中的結構穩定性,發現鋰化和脫鋰過程中內部的Sn納米顆粒會周期性的膨脹和收縮。原位透射...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2019-02-19
原位力電樣品桿研究晶界遷移機制,PicoFemto?原位力學-電學樣品桿與球差電鏡、高速相機結合,高質量地制備出多種包含不同類型晶界的金屬納米結構;在實現了穩定的原位剪切加載的基礎上,...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2019-01-16
澤攸科技光電桿應用于新型產氫系統,PicoFemto原位光學-電學樣品桿在TEM中構建了原位光電連用測試系統,通過外接650 nm激光器對樣品施加光信號,同時利用STM電學測量系統對樣品的光電效應進...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2018-12-21
利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡(TEM)中精確調節CNTs缺陷的技術。這種技術不僅調節精確、過程可逆并且還具有較高重復性,對基于CNTs的諧振器器件研發意義重大。...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2018-08-15
澤攸科技原位TEM-STM系統原位焊接,中國石油大學、燕山大學和西安交通大學聯合公開了一項在環境透射電子顯微鏡(ETEM)中利用原位亞納米操縱探針實現納米陶瓷材料焊接的技術,相關研究成...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2020-09-23