sem掃描電鏡的發展歷史你了解嗎
日期：2022-08-26
隨著對微納米技術的研究和材料分析的需要，掃描電鏡在科研領域越來越重要，是光學顯微鏡無法比擬的。那么今天澤攸科技小編給大家來講述下sem掃描電鏡的發展歷史。
電子顯微鏡通?？煞譃閽呙桦娮语@微鏡和透射電子顯微鏡兩類，是材料微觀分析的重要工具之一，被廣泛應用于材料、化工、醫學、生物等各個領域。
電鏡的發展歷史
1924年：波粒二相性理論的提出
法國物理學家德布羅意指出：一切接近于光速運動的粒子均具有波的性質。人們由此聯想是否可利用波長更短的電子波代替可見光成像？
1926年：磁透鏡聚焦理論的提出
德國學者 H. Busch 提出了運動電子在磁場中的運動理論。他指出：具有軸對稱的磁場對電子束具有聚焦作用。這為電子顯微鏡的發明提供了重要的理論依據。
1931年：**個電子圖像的獲得
德國學者Knoll和Ruska頭次獲得了放大12倍銅網的電子圖像。證明可用電子束和磁透鏡進行成像。
1931-1934年：**臺透射電鏡的誕生
1939年研制成功世界上**臺商品透射電鏡，分辨率優于 100埃；1954年進一步研制成功Elmiskop I型透射電鏡，分辨率優于10埃。
1939年：**臺商品透射電鏡的問世
德國學者魯斯卡等研制成功世界上**臺透射電子顯微鏡，至1934年其分辨率達到了500 埃。魯斯卡因為在電鏡光學基礎研究及以上貢獻獲得了1986年諾貝爾物理獎。
1935年：頭次提出掃描電鏡概念。
在透射電鏡的基礎上, 1935年德國學者諾爾頭次提出了sem掃描電鏡的概念，1952年劍橋大學Oatley等制作了出掃描電鏡。
1965年：**臺商品掃描電鏡
1965年劍橋大學推出**臺商品sem掃描電鏡。目前其發展方向是場發射型高分辨掃描電鏡和環境掃描電鏡。
以上就是澤攸科技小編介紹的sem掃描電鏡的發展歷史，更多關于掃描電鏡的問題請咨詢18817557412(微信同號)。
作者：澤攸科技